DCP LED Test Station / DCP LED 测试站

测量紫外线 LED 时的特殊性

在设计紫外线 LED 积分球分光辐射计时，必须考虑准单色 LED 辐射的特殊性。LED 的单色紫外线辐射会导致积分球涂层产生荧光，从而导致显著的测量误差，而传统的校正方法无法弥补这些误差。本系统基于我们的TVUV10 UV LED 测量系统 的专有技术。

DCP 方法的要求和解决方案

要使用 DCP 方法（IES LM-92-22 和 CIE TC2-91 正在进行的工作）进行精确测量，有两点非常重要：

• 专为紫外线测量优化的快速（微秒量程）光谱辐射计
• 快速（微秒脉冲）SMU

如果不具备这些条件，测量的不确定性就会增加，因为温度效应或抖动会产生更大的误差。

我们与^VektrexTM一起建立了紫外 LED 测试站，用于准确快速地测量 DCP 方法。电流在所需范围内自动扫描，整个扫描过程可在数秒至数分钟内完成。可使用 Python 脚本或在 S-BTS2048 应用软件中运行。

用于测量辐射通量的积分球

用于总辐射通量测量的光谱辐射计入口光学器件的标准配置是一个直径为 100 毫米的积分球，其输入孔径为 25.4 毫米。不过，根据我们的集成球设计套件，也可以采用其他设计。

高分辨率光谱辐射计

BTS2048-UV-2-F 是BTS2048系列的一部分，它已在从高速 LED 分选到 NMI 级测量的各种苛刻应用中得到了验证。此类应用要求最高的精度和连续使用的可靠性。分光辐射计直接连接到积分球上，无需使用导光板，光谱范围从 200 nm 到 550 nm，光谱分辨率为 1 nm。遥控滤光片增加了动态范围。温度稳定 CCD 的像素可同步置零。这一特点为测量脉冲链中的单脉冲提供了可能。当然，也可以测量其他光谱范围，例如 VIS。

杂散光和暗信号

杂散光和暗电平偏移对采用 CCD 或 CMOS 阵列传感器的紫外分光辐射计的测量结果有重大影响。

• 杂散光会错误地照亮像素，从而产生与所需波长不符的测量信号。 如果不适当地抑制杂散光，就无法将 LED 的真实光谱与杂散光效应区分开来。BTS2048-UV-2-F 光谱辐射计通过集成的光阱和光学滤波器提供创新的杂散光抑制功能。
• 暗信号的影响来自于测量仪器不同的工作温度和针对特定辐照度水平调整的积分时间。BTS2048-UV-2-F 分光辐射计的暗信号快门用于测量暗信号，暗信号用于未来测量的暗信号校正

工厂校准和 ISO/IEC/EN 17025 测试测量

Gigahertz-Optik 的测量实验室为 TFUV10-V01 工厂校准提供高质量和可追溯性。Gigahertz-Optik 的校准实验室采用与 NMI 认可的测试测量相同的质量管理程序处理工厂校准。NMI 认可的测试测量还可提供 ISO/IEC/EN 17025 测试证书。