DCP 方法 LED 測試站

測量 UV-C LED 時的特殊功能

在設計紫外線 LED 積分球光譜輻射計時，必須考慮準單色 LED 輻射的特性。這意味著 LED 產生的螢光輻射會導致嚴重的測量誤差。這些測量誤差無法用傳統的校正方法來補償。透過強紫外線輻射對積分球塗層進行預處理，可以將螢光效應降低到計量檢測極限以下的值。

DCP 方法的要求和解決方案

為了使用 DCP 方法（IES LM-92-22 和 CIE TC2-91 中正在進行的工作）進行精確測量，有兩點非常重要：

• 針對紫外線測量最佳化的快速（µs 範圍）光譜輻射計
• 快速（µs 脈衝）源表單元 (SMU)
• 如果不能充分確保這一點，測量不確定性就會增加，因為溫度效應或抖動會產生更大的誤差。

我們與 VektrexTM 合作建立了一個 UV-LED 測試站，以便根據 DCP 方法進行準確、快速的測量。電流在所需範圍內自動變化，完整掃描可在幾秒鐘到幾分鐘內完成。可以使用 Python 腳本或 S-BTS2048 應用軟體進行測量。

用於測量輻射通量的積分球

為了記錄發射的 LED 輻射總量，所使用的測量幾何結構是光譜輻射計與積分球的組合，積分球的直徑通常為 150 毫米。測量口直徑為25.4毫米。堅固的連接埠框架允許連接 LED 支架或可選的 2Pi 校準標準。積分球的定製版本是可能的。

高解析度光譜輻射計

BTS2048-UV 是 BTS2048系列 的一部分，已在各種各樣的應用中證明了自己的價值。這包括在 LED 大規模生產中使用高速 LED 分選以及 NMI 等級的測量。兩者都是需要在連續使用中保持最高精度的例子。光譜輻射計無需光纖電纜即可直接連接到積分球，其光譜測量範圍為 250 nm 至 430 nm。溫度穩定的光電二極體陣列的像素可以同步至零。這提供了測量脈衝鏈中單一脈衝的可能性。當然，BTS2048 產品也可以用於不同的光譜範圍，例如 VIS 範圍。

散射光和暗訊號

散射光和暗訊號對具有CCD或CMOS二極體陣列感測器的紫外光譜輻射計的測量結果有很大影響。

散射光從未被有用光照亮的像素產生測量訊號。這限制了 LED 輻射的單色曝光。 BTS2048-UV 光譜輻射計透過整合的光阱和光學濾波器提供創新的雜散光抑制。
暗訊號的影響源自於測量設備的不同工作溫度和不同輻照度的不同積分時間。利用BTS2048-UV光譜輻射計的暗孔徑，可以測量暗訊號，然後用於校正測量值。
工廠校準和 ISO/IEC/EN 17025 測試
Gigahertz-Optik 測量實驗室在可追溯性和校準執行方面為 DCP-UV-LM92 提供最高等級的工廠校準。這是因為工廠校準遵循與 Gigahertz-Optik 的 DAkkS 認可測試實驗室相同的品質管理。支付額外費用即可頒發 DAkkS 認可的 ISO/IEC/EN 17025 測試證書給測量儀器。