测量温度对LED性能的影响/Measuring the Effect of Temperature on LED Performance

LED本身不产生大量辐射热，但在其半导体结内部会产生热量，必须通过对流和传导进行散热。
随着结温的升高，LED的内部量子效率会下降。而结温的升高与通过LED的电流增加有关。因此，LED的工作结温由驱动电流、环境温度以及散热器设计的效率共同决定。

LED的质量控制

照明制造商通过测量光度和色度参数（如光通量、光谱功率分布、色温和显色指数）来确保其产品质量。

这要求对驱动电流进行精确控制，并在测量过程中对被测设备进行温度稳定处理，如CIE S 025/E:2015 [1] 所详述。
大多数LED照明产品以恒定电流模式（Continuous Wave，CW）或某种形式的PWM（脉宽调制电流模式，Quasi-CW）工作。
然而，在进行产品分类（binning）时，LED芯片制造商通常采用单脉冲模式进行测试。因此，测试系统若能支持连续波和脉冲模式的操作，将有助于直接比较设备性能与制造商所提供的数据。

此外，最新标准推荐使用差分连续脉冲（DCP）方法。该方法已在标准 IES LM-92-22 [2] 中详细描述，并将在即将发布的 CIE TC2-91 [3] 中进一步阐述。
该方法通过连续两个脉冲消除LED在微秒及以下时间尺度内的短期抖动，同时，由于脉冲持续时间较短（微秒级），也可避免LED的加热效应。

光学测量解决方案与LED测试系统

TPI21-TH 测试系统 提供了全自动的测试流程，适用于贴片式（SMD）和板载式LED设备。
其光度、色度、热学和电学测量参数均符合最新标准和规范，包括 CIE S 025、IES LM-79-24 [4] 和 DIN 5032 第9部分 [5]。

DCP 方法 LED 測試站 测试站 提供与 IES LM-92-22 兼容的测试配置，支持差分连续脉冲法、短脉冲法和长脉冲法。
该系统也支持LED的长期热性能监测，可进行连续供电操作。

参考文献

1. CIE S 025/E:2015 – LED灯、LED灯具和LED模块的测试方法

2. IES LM-92-22 – 紫外LED的光学与电气测量方法

3. CIE TC2-91 – LED封装和LED阵列的光学测量方法

4. IES LM-79-24 – 固态照明产品的电气与光学测量

5. DIN 5032-9 – 光度学第9部分：非相干半导体光源的光度参数测量