Überblick von Möglichkeiten der LED/Laser/VCSEL (SSL) Prüfung in der Produktion, im Labor und in der Applikation

Inhaltsverzeichnis

1. Kurzbeschreibung

2. Einführung

3. Überblick Messanforderungen

3.1 Standards, Normen und Richtlinien

3.2 Unterschied der Messanforderung je nach Applikation

3.3 Wichtige Parameter

4. Messtechnische Lösungen

5. Zusammenfassung

6. Literatur

1. Kurzbeschreibung

Im Folgenden Artikel werden zunächst die Anforderungen an das LED/SSL (LED = Light Emitting Device, SSL = Solid State Lighting) Prüfung (Testing) sowie mögliche messtechnische Lösungen erläutert. Dies angefangen bei Applikationen in der Produktion über Labormessungen bis hin zu Tests vor Ort beim Kunden/Anwender. Gigahertz-Optik ist durch seine mittlerweile über 30-jährige Expertise in dieser Messtechnik etabliert und ist mit der BTS Technologie (BiTec Sensor) einen sehr innovativen Weg in der spektralen Messtechnik gegangen.

2. Einführung

Der Einsatz von LEDs für Beleuchtungszwecke aber auch als Designelement schreitet immer weiter voran. Durch viele neue Applikationen und dem enormen Markt wird die Anforderung an die LED oder das SSL Produkt immer größer. Dies hinsichtlich Qualität der LED in Sachen spektralen Eigenschaften (Color Rendering, Color Fidelity, dominante Wellenlänge, Farbort) und Energieverbrauch/Ausbeute (Efficacy lm/W) aber auch im Preis. D.h. die Qualität des Produktes muss durch den weltweiten Wettbewerb bei sinkenden Preisen steigen. Für die Qualität ist neben hochmodernen und präzisen Fertigungstechniken auch eine sehr präzise, stabile und kostenattraktive Messtechnik nötig. Denn bedingt durch Fertigungsprozesse können LEDs nicht mit exakt gleichen optischen Kennzahlen produziert werden. D.h. selbst innerhalb eines Fertigungsloses können die optischen Eigenschaften schwanken. Dies führt schlussendlich dazu, dass bei manchen Baureihen ein 100% Test der LEDs (Intensität (W, lm, W/sr, cd) und Farbe) in der Produktion nötig ist. Im weiteren Fertigungszyklus der LED ist auch deren technische Anbindung in der Applikation entscheidend. Denn so hat beispielsweise die Temperaturmanagement der LED entscheidenden Einfluss auf die Stabilität und Lebensdauer des Produkts. Auch SSL-basierte Laser und VCSEL spielen heutzutage eine wichtige Rolle, was die Messsysteme berücksichtigen müssen.

Abbildung 1: Die LED Technik im Wandel

3. Überblick Messanforderungen

3.1 Standards, Normen und Richtlinien

Um den Anforderungen an die Messtechnik, elektronisch als auch optisch, Genüge zu tun haben einige Fachausschüsse Richtlinien als auch Normen und Standards erarbeitet. Diese bieten mittlerweile ein sehr gutes Gerüst für den Anwender hinsichtlich auszuwählender Messtechnik als auch kritischer Parameter. Besonders zu erwähnen sind folgende Dokumente:

Veröffentlicht:

Info: Gigahertz-Optik GmbH ist als Silver Supportive Member der CIE in dieser Normungsarbeit unterstützend tätig und trägt dazu bei, dass die messtechnischen Konzepte technisch umsetzbar sind. Zudem nehmen wir an Fachausschüssen der DIN Teil. Durch diesen Prozess verstehen wir es unseren Kunden neue Anforderungen schnell verfügbar zu machen.

3.2 Unterschied der Messanforderung je nach Applikation

Die Messtechnik muss sich nach Anforderung der jeweiligen Applikation anpassen, d.h. eine industrielle Messung in der Produktionslinie hat ganz andere Anforderungen als ein Qualitätscheck des Produkts durch den Kunden. Folgende grundsätzliche Anforderungen lassen sich feststellen:

Gilt für alle Anwendungen

• Sehr hohe Anforderung an die Stabilität der Messtechnik

• Sehr hohe Anforderung an Reproduzierbarkeit und Vergleichbarkeit der Messwerte
   

• Geringe Kalibrierunsicherheit, Rückführbarkeit auf nationale Institute und geringe Messunsicherheit

• Preis-Leistungsverhältnis gemäß des Qualitätsanspruches
  
  

Test in der Fertigungslinie

• Sehr schnelle und synchronisierte Messung

• Kompatibilität (Trigger-Möglichkeiten, etc.) mit anderer Messtechnik, z.B. Keithley 2400/2600 Source Meter oder LPS20

• Umfangreiches Softwarepaket mit gutem Support um die Einbindung beim Kunden zu erleichtern/beschleunigen. Oder komplette Messsoftware

• Kompaktes Messsystem um es in Waferprobern/Testmaschinen (im Front- und Backend-Binning) bei meist wenig Bauraum einzubinden
  
  

Laboranwendung/WEK/Produktionsbegleitende QS

• Sehr flexibel, eventuell Modulares Messkonzept um viele verschiedene Messaufgaben abzudecken

• Messung unter kontrollierten Messbedingungen wie z.B. Sperrschichttemperatur

• Kompatibilität (Trigger-Möglichkeiten, etc.) mit anderer Messtechnik, z.B. Keithley 2400/2600 Source Meter oder LPS20 LED Treiber
  
  

Applikationsprüfung vor Ort beim Kunden/Anwender

• Handmessgerät/Mobile Messgeräte

• Für den Außeneinsatz geeignet (Temperaturkorrigiert, Spritzwasserschutz, sehr Robust, klein)

• Einfache und intuitive Bedienung ohne Warmlaufzeit

• Günstiges Preis-Leistungs-Verhältnis angepasst an die geforderten Anforderungen der verschiedenen Applikationen. 
  
  

3.3 Wichtige Parameter

Auf Basis von wissenschaftlichen Veröffentlichungen haben die Fachgremien (z.B. CIE oder IES) in den Standards, Normen und Richtlinien wesentliche Vorgaben hinsichtlich Geräteparameter vorgegeben. Im Folgenden sind einige Größen aufgeführt:

Optisches Messgerät

In der LED/SSL Messtechnik werden größtenteils Spektralradiometer eingesetzt. 

• Kalibrierunsicherheit:

  Das Spektralradiometer muss rückführbar auf Nationale Standards wie PTB oder NIST in einem qualifizierten und erfahrenen Kalibrierlabor kalibriert werden. Denn die Qualität der Kalibrierung ist entscheidend für den Einsatz und auch die Reproduzierbarkeit sowie Vergleichbarkeit von Messgeräten untereinander.

  Info: Gigahertz-Optik hat ein in spektraler Bestrahlungsstärke und spektraler Empfindlichkeit zertifiziertes DAkkS Kalibrierlabor (D-K-15047-01-00) wodurch die Produkte eine möglichst hohe Qualität an Kalibrierung und Qualitätssicherung erfahren.
  
  

• Messunsicherheit:

  Neben der Kalibrierunsicherheit ist die Messunsicherheit sehr wichtig, da die zu vermessenden Lichtquellen in der Regel nicht der bei der Messgerät-Kalibrierung verwendeten Kalibrierquelle entspricht. Auch müssen die Eigenschaften (Umgebungsbedingungen) am Einsatzort der Messgeräte in Betracht gezogen werden (siehe CIE 198 und CIE S025). Aus diesem Grund muss eine erweiterte Messunsicherheitsbetrachtung durchgeführt werden. Für den Anwender heißt dies, dass weitreichende Charakterisierungen des Spektralradiometers nötig sind und diese Parameter auch vom Hersteller erhältlich sein müssen.
  
  

• Reproduzierbarkeit:

  Neben der Reproduzierbarkeit der Messergebnisse selbst ist auch eine gute Reproduzierbarkeit der mechanischen Adaption an z.B. der Ulbrichtkugel oder des Lichtstärkeadapters nötig. D.h. diese Adapter müssen mechanisch gut durchdacht und robust ausgelegt sein. Optische Fasern sind hier anfälliger und benötigen etwas mehr Aufwand im Gegensatz zu stabileren geschlossenen Systemen.
  
  

• Optische Bandbreite:

  Kleiner 5 nm oder Bandbreitenkorrigiert (z.B. 10 nm mit Bandbreitenkorrektur) gemäß CIE214. Für Labor- und Applikationsmessungen ausreichend. Für Industrieanwendung z.B. beim Sortieren, dem sogenannten Binning können optische Bandbreiten kleiner 3 nm eine gute Wahl sein um die Präzision der Farbmessung noch zu erhöhen. Die optische Bandbreite verfälscht das Spektrum indem z.B. Linien oder Peaks von LEDs verbreitert werden (siehe "Grundlagen der Lichtmesstechnik").
  
  

• Wellenlängengenauigkeit:

  Für Applikationsmessungen sollte diese besser ± 0,5 nm sein um genügend Präzision in der Farbortbestimmung zu erlauben. Für hochpräzise Binning-Aufgaben sollten diese besser ± 0,2 nm sein. Diese Präzision ist für eine präzise Farbortmessung enorm wichtig und stellt demnach auch mit die größte Messunsicherheit dar. Neben der Präzession ist auch die Stabilität der Wellenlängen-Kalibrierung wichtig um stabile Ergebnisse zu erhalten.
  
  

• Streulichtunterdrückung:

  Die Streulichtunterdrückung (siehe Info) ist gerade bei der Vermessung von weißen LEDs relevant. Eine zu geringe Streulichtunterdrückung führt beispielsweise zu Verschiebungen im Farbort. Es ist mindestens eine Streulichtunterdrückung von 10E-3 nötig um präzise genug zu messen. Sehr gut entwickelte Spektralradiometer (z.B. optischer Strahlengang mit ZEMAX Simulationen, etc.) können dies schon mittels ihrer Hardware-Eigenschaften mehr als erfüllen. Mittels Streulichtmatrizenrechnung gemäß (Zong et al., 2006) oder (Nevas et al., 2012) ist prinzipiell eine noch bessere Streulichtunterdrückung möglich. Eine gute Streulichtunterdrückung ist neben der Wellenlängengenauigkeit mit entscheidend für präzise Farbortmessungen.

  Info: Streulichtunterdrückung ist die Vermeidung von Streulicht/Falschlicht aus anderen Wellenlängenbereichen bei der genutzten Wellenlänge. Z.B. kann das Signal einer weißen LED in der Spektrometereinheit Streulicht erzeugen welches von Detektorpixeln detektiert wird welche eigentlich den Spektralbereich unterhalb 400 nm darstellen. Dieses Signal steckt dann in den Messdaten, ist aber physikalisch nicht von der LED sondern ein Messfehler des Spektralradiometers. Dieser Messfehler kann zu Farbortverschiebungen führen. Das Problem bei Streulicht ist, dass es von der zu vermessenden Lichtquelle und deren spektraler Verteilung abhängt. D.h. es gilt eine möglichst hohe Streulichtunterdrückung zu erreichen um diese Unsicherheit zu vermeiden bzw. zu verringern. Weitere Informationen siehe Fachartikel Streulichtfachartikel.
  
  

• Trigger-Möglichkeiten:

  Gerade im industriellen Umfeld bei der zeitlich getakteten Produktion ist das Messgerät nicht das steuernde Gerät. Deshalb müssen Trigger-Möglichkeiten bestehen, so dass z.B. die Stromquelle (z.B. ein Keithley 2400/2600 oder LPS20) den Takt vorgeben kann. Zur präzisen Synchronisierung ist ein möglichst geringer Versatz (Jitter) zwischen Triggereingang (d.h. Bestromen des Messobjekts) und Messstart (Start Messung Spektralradiometes) nötig. Dieser sollte bei wenigen µs, empfohlen im ns Bereich liegen.
  
  

• Linearität:

  Die Linearität von CCD und CMOS Detektoren ist nicht bei jeder Aussteuerung und Integrationszeit dem hohen Anspruch von präzisen Spektralradiometrischen Messungen genügend. Hochwertige Messgeräte weisen demzufolge vollständig linearisierte Detektoren auf.

  Info: Mit der von Gigahertz-Optik angebotenen BTS-Technologie besteht die Möglichkeit einen zusätzlichen Detektor als Referenz sowie Korrekturgröße heranzuziehen, der durch höchste Linearität über einen großen Dynamikbereich überzeugt.
  
  

• Dynamik:

  Um eine möglichst große Dynamik zu erhalten sollte zum einen der ADC eine für die Applikation passende Auflösung aufweisen (z.B. 16bit im Binning). Zudem sollte mittels einstellbarer Integrationszeit ein sehr großer Dynamik-Bereich abdeckbar sein. Zusätzlich kann dieser Messbereich mit OD Filter erweitert werden. Die Steuerung der Dynamik vorrangig mittels Integrationszeit vermeidet den zeitintensiven OD-Filter Wechsel in der Applikation und führt zu keiner weiteren Kalibrierunsicherheit durch die OD-Filter selbst (spektraler Gang, Alterung). Die Auswirkung der OD-Filter auf die Messunsicherheit muss berücksichtigt werden, z.B. durch eigene Kalibriereinträge der OD-Filter. 

  Info: Das BTS2048-VL-TEC beispielsweise deckt einen Integrationsbereich von 2 µs bis 60 s ab. Dies sind schon über 7 Größenordnungen Dynamik allein mittels Integrationszeit.
  
  

• Langzeitstabilität:

  Die Alterung des Messsystems muss bei der Messunsicherheitsbetrachtung mit berücksichtigt werden und sollte bei guten Messsystemen sehr gering sein. Auch um die Rekalibrierungszyklen so lange wie möglich zu gestalten. Insbesondere die Langzeitstabilität hinsichtlich der Wellenlängengenauigkeit ist von großer Bedeutung. Ist diese nicht gegeben können sehr große Drifts hinsichtlich Farbmessung (Farbort, dominante Wellenlänge, etc.) die Folge sein.

  Info: Bei einer Lichtstrommessung ist die Ulbrichtkugel Teil der Eingangsoptik und demnach auch Teil des Messsystems und demnach muss deren Alterung mit betrachtet werden. Die BTS-Technologie hat durch ihre zwei Sensor Technologie einen Vorteil, denn dadurch ist automatisch ein Referenzsensor vorhanden der mögliche Drifts erkennt.
  
  

• Temperaturkorrektur:

  Gerade im Außeneinsatz ist eine Temperaturkorrektur notwendig um korrekte absolute Messwerte (z.B. Bestrahlungsstärke) als auch Wellenlängenfehler zu korrigieren. Aber auch in der Produktionsumgebung müssen Temperatureffekte, auch wenn sie kleiner sind, berücksichtigt und deren Auswirkung auf die Messung idealerweise technisch verhindert oder kompensiert werden.

  Info: Hierin ist die BTS-Technologie wiederum im Vorteil gegenüber konventionellen Spektralradiometern, den sie erlaubt eine Onlinetemperaturkorrektur der Daten.

Eingangsoptik

• Lichtstrommessung:

  Ulbrichtkugel → In Abhängigkeit der Applikation sind unterschiedliche Kugel-Geometrien erforderlich. 2Pi Messgeometrien sind meist die erste Wahl beim Einsatz in Fertigungslinien, denn Sie bieten den Vorteil, dass das zeitintensive Einführen des Messobjekts in die Kugel nicht erforderlich ist. Kombinierte 2Pi oder 4Pi Ulbrichtkugeln sind eine gute Wahl für den Laborbetrieb, da sie Flexibilität hinsichtlich der Positionierung des Messobjektes ermöglichen. Auch rotierbare Kugeln sind eine gute Option um die Messung der Lampe in der Applikationslage zu ermöglichen.

  Info: Gigahertz-Optik GmbH als Hersteller von Ulbrichtschen Kugeln mit Jahrzehnte langer Erfahrung bietet bei der Auswahl/Konfiguration die nötige Expertise und große Gestaltungsmöglichkeiten.
  
  

• Lichtstärkemessung:

  ILED-B oder ILED-A Adapter → In der LED Messtechnik hat sich der LED Average Intensity Adapter (A oder B) durchgesetzt. Da dieser Messadapter schnelle und reproduzierbare Ergebnisse liefert. Beide Varianten benötigen eine homogene Empfindlichkeitsfläche von 1 cm² und einen definierten Messabstand (ILED-B = 100 mm → 0,01 sr, ILED-A = 316 mm → 0,001 sr). Weiter verbreitet ist der ILED-B da er durch seinen kürzeren Messabstand und die dadurch bedingten kürzeren Messzeiten Vorteile bietet (Faktor 10).
  
  

• Waferprober:

  Manche Produktionslinien erfordern die Prüfung/Selektion bereits während der Fertigung auf dem Wafer. Hierzu werden teils sogenannte Waferprober verwendet. Dies sind spezielle hochempfindliche faserbasierte Eingangsoptiken um möglichst kurze Messzeiten und eine präzise Positionierung direkt am Wafer vor der gewünschten LED zu ermöglichen. Diese sind meist in Bestrahlungsstärke und Strahlstärke kalibriert. Rein prinzipiell stellen sie eine Abwandlung der ILED-B oder ILED-A Messgeometrie für eine andere Anforderung dar.
  
  

• Beleuchtungsstärke:

  COS-Diffusor → Für präzise Beleuchtungsstärkemessungen sind sehr gut angepasste COS-Diffusoren im kompletten Spektralbereich des Spektralradiometers nötig. Ist dies nicht der Fall kann es bei größeren Einfallswinkeln zu spektralen Messfehlern durch eine unterschiedliche COS Wichtung des Messsignals führen.

Elektrische Messtechnik

• Quelle und Messung:

  Die Stromquellen sollten den Vorgaben der CIE S025 entsprechen. D.h. die Kalibrierunsicherheit der Stromquelle, deren Bandbreite, etc. müssen beachtet werden. Bei DC Spannungsversorgung sind ± 0,4 % RMS und bei DC Stromversorgung ± 0,2 % RMS einzuhalten. Die Spannungsmessung muss bei DC besser 0,1 % sein. Im Pulsbetrieb muss sich das Netzteil mit dem Messgerät durch Trigger-Möglichkeiten zeitlich synchronisieren lassen.  

  Info: Gigahertz-Optik integriert Stromquellen und Messgeräte der Firma Keithley oder solche aus eigener Produktion.

Software

Für die Einbindung der Messtechnik in die Prozesse des Anwenders und eine korrekte Durchführung der Messung ist eine intuitive Software und guter Support nötig um Bedienfehler als auch Kosten zu vermeiden. Diese Software muss sich zudem auf Anforderungen des Kunden einrichten lassen. Des Weiteren muss sie die Kontrolle verschiedener Geräte untereinander als auch logische Operationen und Auswertungen unterstützen. Zudem muss sie berechnete Größen zuverlässig, schnell und präzise ermitteln. Nicht zu vernachlässigen ist eine schnelle Integration von neuen Kenngrößen wie beispielsweise der IES TM-25 oder IES TM30-15. 

Umgebungsbedingungen

Durch den CIE S025 werden Vorgaben über die Labor- und Rahmenbedingungen gemacht. Diese betreffen beispielsweise die Umgebungstemperatur (tolerance interval ± 1,2 °C), Oberflächentemperatur, Luftzug, etc. Zudem gibt es Vorgaben über die Genauigkeit der elektrischen Messung. 

4. Messtechnische Lösungen

Die unter z.B. 3.1 genannten Normen geben eine Richtung der messtechnischen Umsetzung vor. Dennoch besteht eine gute Lösung nicht allein darin diese zu erfüllen, sondern diese zu erfüllen und dabei praktikabel, preis attraktiv und den Anforderungen des Anwenders gerecht zu werden. Wir von Gigahertz-Optik haben diese Thematik sehr ernst genommen und mit unseren über 30 Jahren Erfahrung Messsysteme entwickelt die den Anforderungen des Kunden, der Applikation und den Vorgaben der Normen gerecht werden. Im Folgenden sind einige Beispiele aufgeführt:

Test in der Fertigungslinie

BTS2048 Serie Serie besticht durch seine optischen Eigenschaften (200 nm bis 2150 nm, geringstes Streulicht, hohe Linearität und Dynamik, etc.), seine umfangreiche Elektronik, seine Kompaktheit als auch Flexibilität in dieser Anwendung. Das Gerät ist in der Oberklasse der Spektralradiometer anzusiedeln was seine optischen Eigenschaften und Qualität angeht. In direkter Anbindung an eine Ulbrichtkugel sind Lichtstrom und Farbmessungen möglich. Verbunden mit einem ILED-B Adapter erlaubt es gemäß CIE127 Strahlstärkemessungen. Beide Messgeometrien werden bei namhaften LED Herstellern in der Produktion, dem sogenannten Binning, vielfach eingesetzt.

Abbildung 2: BTS2048-VL mit ISD-xxx (rechts oben) in der Fertigungslinie schematisch dargestellt (links oben). Unten ist das BTS2048-VL mit ILED-B Adapter illustriert.

Bedingt durch den in der BTS2048 Serie integrierten elektronischen Shutter sind wesentlich kürzere Integrationszeiten (kürzeste 2 µs) im Vergleich zu anderen Geräten dieser Klasse (ms Bereich) möglich. Hierdurch erhöht sich die Dynamik fast um einen Faktor 1000 ohne Einsatz von OD Filtern. Mit OD-Filtern kann die Dynamik zusätzlich erhöht werden. Zudem eliminiert der elektronische Shutter die benötige Zeit des mechanischen Schutters (siehe Abbildung). Die moderne und Leistungsfähige Elektronik mit einer Vielzahl von Schnittstellen (Ethernet, USB, Trigger, etc.) ermöglicht eine schnelle Abfolge von Messreihen. D.h. die Wartezeit zwischen zwei Messungen wird reduziert. So ist z.B. eine Messung im 1 ms und die Folgemessung mit lediglich 6 ms Verzögerung möglich, dies spart Zeit in der Produktion und somit auch Kosten (weitere Informationen finden sie hier). In der folgenden Darstellung ist schematisch der komplette Ablauf des LED Binning Prozesses dargestellt. Zudem sind die Schritte hervorgehoben in denen mit dem BTS2048-VL Vorteile erzielt werden können. 

Abbildung 3: Der elektronische Schutter des BTS2048-VL verkürzt die Wartezeit zwischen zwei darauf folgenden Messungen. Die Leistungsstarke Elektronik verkürzt die Berechnungszeit und Datenübertragung.

Abbildung 4: Prinzipieller Ablauf eines Binning-Prozesses in der Fertigung 

Auch die integrale superschnelle Messung von Pulsformen, Pulsintensität von Lasern ist wichtig, wenn es zum Beispiel um LiDAR-Anwendungen geht. Das ISD-1.6-SP-Vxx ist ein Messsystem, das diese Anforderungen mit einer schnellen (ns) Diode für Pulsformen und einer präzisen (µs bis ms) Diode für Pulsenergie erfüllt.

Laboranwendung/WEK/Produktionsbegleitende QS

Für das Labor ist die BTS256-LED Tester Serie mit dessen Flexibilität eine vielseitige Technologie. Als Handmessgerät eignet sich das BTS256-LED zur Vermessung von einzelnen LEDs. Mit Hilfe einer schnell montierbaren Diffusoroptik am Bajonettanschluss des Messgeräts kann es auf dem Goniometer oder als Bestrahlungsstärkemessgerät von Spotleuchten verwendet werden. Durch seinen Bajonettanschluss kann es zudem an verschiedensten Ulbrichtkugeln angebracht werden. D.h. es ist das optimale Spektralradiometer für vielseitige Messaufgaben im Labor (weitere Informationen finden sie hier).

Für noch hochwertigere Messaufgaben ist gleiches Konzept mit der BTS2048 Serie möglich (weitere Informationen finden sie hier).

Der TPI21-TH ist ein Plug & Play Testsystem für Single LEDs (Star, SMD, etc.) oder LED Assemblies bis 70 mm Durchmesser. Sämtliche für die Vermessung der LED Prüflinge erforderlichen Funktionen des Keithley Sourcemeters, des  hochwertige Spektralradiometer (BTS2048-VL) und der Messfassung mit thermoelektrischer Kühlung und Heizung (LEDA-7-TEC) werden von der System-Software durchgeführt. Vorgaben für den Messzyklus können vom Anwender individuell eingestellt werden. Die Software (S-BTS2048) bietet zudem die komplette Messdatenauswertung. In der Summe seiner Eigenschaften ermöglicht dieses System  Messungen gemäß DIN 5032-9 oder CIE S025. In seiner optionalen lichtdichten Messkammer kann das Messsystem in beleuchteten Produktionsstandorten eingesetzt werden

Abbildung 5: TPI21-TH Messsystem in der optionalen Messkammer

Applikationsprüfung vor Ort beim Kunden/Anwender

Für die Messung von Beleuchtungsstärke, Bestrahlungsstärke und Lichtfarbe sowie CRI haben wir zwei Geräte für unterschiedliche technische Anforderungen entwickelt um den Kunden möglichst das ideale Messgerät für ihre Applikation zur Verfügung zu stellen. Die BTS256-E Serie ist das hochwertige BTS basierende Handmessgerät mit guter Streulichtunterdrückung, Wellenlängengenauigkeit, etc. für höchstmögliche Präzision im Feldeinsatz oder Applikationsmessungen. Mit diesem Gerät sind dadurch unter anderem präzise Aussagen über den Farbort (Mac Adam Ellipsen, Binningfelder, etc.) für Qualitätssicherung und Überprüfungen möglich. Zudem kann die EF Version auch Flicker-Werte direkt vor Ort bestimmen.

Das MSC15 und BTS256-EF ist quasi der kleine Bruder des BTS256. Es ist preislich deutlich niedriger angesetzt mit einigen Abstrichen im optischen und funktionellen Leistungsumfang. Dafür ist dessen Bedienung und Software auf höchste Einfachheit und Intuition ausgelegt.

5. Zusammenfassung

Die Anforderungen an das LED/Laser/VCSEL (SSL) Prüfung  (Testing) wandeln sich stetig durch die rasante Weiterentwicklung der LED Technologie. Hierbei besteht die Herausforderung an die Messtechnik darin, dass diese nicht nur die Normen und Standards sondern auch die Anforderungen des Kunden optimal erfüllt werden. Zudem sind kurze Entwicklungsphasen sowie ein guter Support nötig um die Geschwindigkeit der LED Entwicklung auch in der Messtechnik abbilden zu können.  Gigahertz-Optik GmbH ist durch seine mittlerweile über 30 jährige Erfahrung Experte in dieser Messtechnik und stellt mit dem modularen Produktportfolio und dem hochwertigen Kalibrierlabor den optimalen Partner für ihre aktuelle und kommende Anforderungen dar.

6. Literatur

Nevas S, Wübbeler G, Sperling A, Elster C and Teuber A 2012 Simultaneous correction of bandpass and stray-light effects in array spectroradiometer data Metrologia 49 S43

Zong Y, Brown S W, Johnson B C, Lykke K R and Ohno Y 2006 Simple spectral stray light correction method for array spectroradiometers Appl. Opt. 45 1111-9

CIE84, Measurement of Luminous Flux

CIE127, Measurement of LEDS

CIE198, Determination of Measurement Uncertainties in Photometry

CIE214, Effect of Instrumental Bandpass Function

CIE S014, Colorimetry

CIE S025, Test Method for LED Lamps, LED Luminaires and LED Modules

IES LM-79-08, Electrical and Photometric Measurements of Solid-Sate Lighting Products

IES LM-80-08, Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources

DIN 5032-9 Messung der lichttechnischen Größen von inkohärent strahlenden Halbleiterlichtquellen