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X4

Bi-Technologie Sensor Lichtmessgerät für Beleuchtungsstärke und UV-A-, VIS- und NIR-Bestrahlungsstärke. Features: Messung von Beleuchtungsstärke, Bestrahlungsstärke, Strahldichte, Lichtspektrum, CCT, CRI und Farborte.

X4

X4 Light Analyzer Bi-Technology Sensor

Der X4 Light Analyzer misst die photometrische Beleuchtungsstärke, die radiometrische Bestrahlungsstärke und die spektrale Bestrahlungsstärke in absoluten Lichtmesseinheiten. Seine Bi-Tech-Sensortechnologie umfasst sowohl Filterdetektoren als auch ein Spektrometer, die zusammenarbeiten, um die Messunsicherheit zu verringern.

Integrale Detektoren

Die breitbandig gefilterten Detektoren entsprechen den photopischen, skotopischen oder radiometrischen CIE-Spektralempfindlichkeiten für UV-A, VISIBLE und NIR. Die Festkörper-Photodioden bieten einen großen dynamischen Messbereich mit hervorragender Linearität.

Dioden-Array-Spektrometer

Das Diodenarray-Spektrometer liefert Spektraldaten im Wellenlängenbereich von 315 bis 1050nm. Die relativen Spektraldaten werden verwendet für:

Online-Korrektur der Unsicherheit der spektralen Fehlanpassung der Breitbanddetektoren
Spektrum, Peak-Wellenlänge, Halbbandbreite, Intensität der Peak-Wellenlänge
Farbtemperatur, xy- und u'v'-Chromatizitätswerte, Farbwiedergabe-Index

Zubehörkomponenten

Die Fähigkeiten des X4 können mit optionalen Zubehörkomponenten für die Messung der Licht-/Strahlungsstärke, des Licht-/Strahlungsflusses und der räumlichen Verteilung der Licht-/Strahlungsintensität erweitert werden.

Software

Die mitgelieferte S-X4-Software unterstützt die vollständige Steuerung des X4 und aller im System enthaltenen Zubehörteile. Dazu gehören Gigahertz-Optiks LED- und Lampen-Netzteile (LPS), Goniometer (GBD) und Ulbricht-Kugeln (IS). Es stehen verschiedene Routinen zur Datenerfassung, mehrere numerische und grafische Anzeigen zur Visualisierung und verschiedene Exportoptionen (ASCII und Microsoft Excel) zur Verfügung.

Elektronik

Die X4-DE-Elektronikeinheit enthält das Diodenarray-Spektrometer und die Detektorelektronik. Die X4-DE-Geräte werden über eine USB-Schnittstelle ferngesteuert.

Bi-Technology-Sensor-Design

Das Diodenarray-Spektrometer ist ein kompaktes Czerny-Turner-Design, das mit einer CCD-Zeile mit 2048 Pixeln ausgestattet ist. Ein SMA-Glasfasereingang mit Kollimations- und Fokussierspiegel und Beugungsgitter ermöglicht die Messung bei geringem Lichtpegel und hoher Auflösung. Ein flexibler Lichtleiter von 1 m Länge verbindet das Diodenarray-Spektrometer mit dem Detektorkopf X4-BTS oder LDM-9812. Die vierkanalige Breitband-Detektorelektronik besteht aus einem hochempfindlichen Analogverstärker mit umschaltbarer Verstärkung über einen Messbereich von 0,1 pA bis 200 µA.

Tisch- oder Rack-Montagegehäuse

Der X4-DE ist in zwei Versionen erhältlich. Der X4-DE-UN in seinem eigenen Tischgehäuse ist für Stand-alone-Anwendungen konzipiert. Das X4-DE-UN-RM ist für den Einbau in ein 19"-Rack oder Tischgehäuse vorgesehen, wo es mit anderen elektronischen Geräten wie LED-Netzteilen zu einer kompletten Elektronikeinheit kombiniert werden kann.

PC- oder Laptop-Betrieb

Zum Betrieb des X4-DE und zur Anzeige der Ergebnisse wird ein Laptop oder PC mit USB-Schnittstelle benötigt. Die Stromversorgung des X4-DE erfolgt über die USB-Schnittstelle (5VDC Betriebsspannung).

S-X4 Software

Die mitgelieferte Software unterstützt die PC-Fernsteuerung des X4-DE einschließlich der Einrichtung, der Messroutine, der angezeigten Daten sowie der Dokumentation.

Rückführbare Kalibrierung des Spektroradiometers

Die Kalibrierung und Zertifizierung erfolgt durch das Kalibrierlabor von Gigahertz-Optik für Lichtmessgrößen gegen Kalibriernormale, die auf nationale und internationale Metrologielabore rückführbar sind.

Breitbanddetektoren für absolute Messungen und Diodenarray für spektrale Messungen

Der Lichtsensor X4-BTS enthält einen SMA-Faseranschluss für den Lichtleiter des Diodenarrayspektrometers und bis zu vier Breitbanddetektoren vom Typ X4-ID. Ein gemeinsames Diffusorfenster zur Kosinuskorrektur sorgt für eine gleichmäßige Ausleuchtung des Lichtleiters und jedes einzelnen Sensors.

Problemloser Lichtleitertausch

Die Verwendung einer Breitbanddetektorhalterung im Sensorgehäuse gewährleistet absolute Messungen unabhängig von Einflüssen durch den austauschbaren Lichtleiter.

Diodenarray-Spektrometer

Der X4-BTS-Sensor wird über ein SMA-Lichtleiterkabel mit dem Diodenarray-Spektrometer X4-DE für spektrale Bestrahlungsstärkemessungen verbunden. Die Faser wird hinter dem Kosinusdiffusor platziert. Der Offset-Ausgleich für den Diodenarray-Detektor erfolgt über einen manuell betätigten Shutter zwischen dem Diffusor und der Faser. Ein manuell bedienbarer OD2-Neutraldichtefilter erhöht den Dynamikbereich des Diodenarrays bei der Messung von Lichtquellen mit niedrigem und hohem Signalpegel. Die Schaltstellungen von Shutter und Dämpfungsglied werden an das X4-DE-UN zurückgemeldet.

Rückführbare Kalibrierungen von Detektoren

Das X4-DE mit X4-BTS ist für die photometrische und radiometrische Empfindlichkeit des/der integrierten Detektors/Detektoren und die absolute spektrale Empfindlichkeit des Diodenarray-Spektrometers im Wellenlängenbereich von 315nm bis 1050nm kalibriert. Die Kalibrierung erfolgt durch das Kalibrierlabor von Gigahertz-Optik für Lichtmessgrößen gegen Kalibrierstandards, die auf nationale und internationale Metrologielabore rückführbar sind.


Optionale Zubehörkomponenten

Für den X4-BTS-Detektor können optionale Komponenten bestellt werden, um die Messmöglichkeiten zu erweitern:

  • Ulbricht-Kugeln für Lichtstrom- und Strahlungsleistungsmessungen
  • Goniometrische Bank für die räumliche Verteilung der Lichtstärke
  • Frontröhren mit LED-Adaptern für Messungen der nach CIE 127 gemittelten LED-Intensität
  • Frontlinsenadapter für Leuchtdichte- und Strahldichtemessungen


Der Sensorkopf mit 45mm Durchmesser und V-Nut passt auf die erhältlichen Gigahertz-Optik Zubehörteile mit 45mm Durchmesser Detektoraufnahme.

X4-ID1 Photopischer Detektor

Für photometrische Messungen wird ein Lichtdetektor benötigt, der die photopische Reaktion nach CIE simuliert. Der X4-ID1 bietet eine genaue Simulation der visuellen Tageslichtreaktion. Die Messunsicherheit wird bei schmalbandigen Lichtquellen durch eine Online-Korrektur anhand der Dioden-Spektrometerdaten weiter reduziert.

X4-ID3 400-800nm Detektor

Neben der Qualifizierung von Lichtquellen in photometrischen Größen sind für Lichtquellen, die im sichtbaren Bereich emittieren, auch Messungen in anderen Einheiten wie W, W/m², W/(m²sr) und W/sr erforderlich. Der Sensor X4-ID3 deckt den sichtbaren Bereich radiometrisch ab.

X4-ID5 800-1050nm Detektor

Der Sensor X4-ID5 deckt den NIR-Spektralbereich vom Sichtbaren bis 1050 nm ab. Übliche Anwendungen sind die Messung des NIR-Spektrums von kühlen Leuchtstofflampen zur Überprüfung der Wirksamkeit ihrer Kurzpassfilterung und die Qualifizierung von NIR-LEDs.

X4-ID2 350-650nm Detektor

Lichtquellen, die in Photohärtungsanwendungen eingesetzt werden, emittieren im langwelligen UV- und Blaulichtbereich. Der X4-ID2 deckt diesen speziellen Wellenlängenbereich ab. Für hochintensive "blaue" Lichtquellen umfasst ein typischer Messaufbau eine Ulbricht-Kugel mit 150 mm Durchmesser (X4 -BTS-UV4 erforderlich).

X4-ID4 315-400nm Detektor

Der UV-A-Wellenlängenbereich wird von DIN und CIE mit 315 bis 400 nm angegeben. Lichtquellen des Typs UV-A werden häufig in UV-Härtungs- und Phototherapieanwendungen eingesetzt. Der Sensor X4-ID4 deckt den UV-A-Bereich der optischen Strahlung ab (X4-BTS-UV4 erforderlich).

X4-ID7 Scotopic-Detektor

Die CIE spezifiziert eine dunkeladaptierte skotopische Augenreaktion. Für skotopische Messungen bietet der X4-ID7 eine V'(λ)-Spektralempfindlichkeit. In Kombination mit dem photopischen Detektor X4-ID1 können Lichtquellen sowohl unter dem Aspekt der tageslicht- als auch der dunkeladaptierten menschlichen Augenreaktion bewertet werden.

S-X4 Software

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X4 Detektorkopf an einer Ulbrichtkugel

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Front Lens Adapter SRT of the X4

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LDM 9812 on X4

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X4 Detector

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