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Messung der Temperaturcharakteristik und optischer Strahlung

Messen der Auswirkung der Temperatur auf die LED‑Performance

App. 001

Ein gutes thermisches Design von LED-Lichtquellen und -Leuchten ist unerlässlich, um eine optimale LED-Performance in Bezug auf Lichtleistung und Lebensdauer zu gewährleisten. Zwar strahlen LEDs keine nennenswerten Wärmemengen ab, trotzdem wird innerhalb des Halbleiters der LED Wärme erzeugt. Diese muss abgeleitet werden, wenn die Quanteneffizienz und Lebensdauer der LEDs auch bei hohen Betriebsströmen aufrechterhalten werden soll.

Einfluss von Temperatur auf die LED Eigenschaften

Die LED-Performance wird also maßgeblich von der Effizienz des Wärmemanagements bestimmt. Hersteller von Leuchten und Lampen stellen die Qualität ihrer Produkte sicher, indem sie photometrische und farbmetrische Parameter wie Lichtstrom, spektrale Leistungsverteilung, Farbtemperatur und Farbwiedergabe ihrer Produkte messen. Die Durchführung der Messungen unter Berücksichtigung der Besonderheiten von LEDs sind in der CIE S 025/E:2015 [1] beschrieben. Auch wenn die meisten LED-Beleuchtungsprodukte im Konstant-Strombetrieb bzw. Pulsbreiten moduliert betrieben werden, erfolgt das Binning der LEDs durch die LED-Hersteller im Einzelpulsmodus. Testsysteme, mit der sich die LED-Prüfung sowohl im Dauerstrich- als auch im Impulsmodus durchführen lassen, ermöglichen einen Vergleich der eigenen Messdaten mit denen der LED-Hersteller.

Optisches LED Testsystem mit Temperaturregelung

Das TP121-TH LED-Testsystem bietet vollautomatische Testroutinen für SMD- und On-Board-LED. Die photometrischen, farbmetrischen, thermischen und elektrischen Messparameter des Systems entsprechen den neuesten Normen und Vorschriften, einschließlich CIE S 025, IES LM-79-08 [2] und DIN 5032 Teil 9 [3].

Referenzen

[1\ CIE S 025 / E: 2015 Prüfverfahren für LED-Lampen, LED-Leuchten und LED-Modul

[2] IES LM-79-08 Elektrische und photometrische Messungen von Festkörper Beleuchtungs Produkten

[3] DIN 5032-9 Photometrie - Teil 9: Messung der photometrischen Größen inkohärenter emittierender Halbleiterlichtquellen